阻抗分析儀IM3570可實現不同測量條件下的高速檢查，一臺儀器能實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查。LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量。適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量，分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量。 LCR測試儀和阻抗分析儀被設計用于測試電子元件在某些頻率或寬頻率范圍內的阻抗。如果阻抗不符合規(guī)格，則這些電子元件將不能正常工作。
LCR測試儀和阻抗分析儀使用自動平衡電橋法（ABB）和射頻電流-電壓法（RF I-V）兩種方法測量阻抗。
使用自動平衡電橋法的LCR測試儀或阻抗分析儀可以在較寬的頻率范圍內（1MHz-100MHz）測量較大的阻抗，適用于低頻、通用測試，但尚不足以進行高頻測試。
而使用射頻電流-電壓法的儀器通常提供較高的精度（約1%左右），并可以在高頻下測試較大的阻抗。
LCR測試儀和阻抗分析儀到底有哪些差別呢？
LCR測試儀和阻抗分析儀可以使用以上兩種方法測量阻抗，這兩種產品之間的差別更多的是功能和顯示：
LCR測試儀通常采用單一頻率進行測量并提供數值。
阻抗分析儀可以不斷地切換頻率進行測量，并提供頻率特性圖，也可以執(zhí)行等效電路分析。
隨著信號電感器和功率電感器在智能手機、平板電腦和汽車方面的使用持續(xù)增長，阻抗分析儀和LCR的應用越來越廣泛，阻抗分析儀尺寸緊湊，寬頻率范圍，憑借高性價比獲得廣大用戶的認可。
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